GORE® PHASEFLEX® 微波/射频测试电缆组件

性能可靠、耐用，降低测试总成本

GORE® PHASEFLEX® 微波/射频测试电缆组件专为大批量生产测试环境设计，性能稳定确保精确和可重复的测试结果，减少测试错误风险，降低为排除故障和系统校准而浪费的工时。GORE® PHASEFLEX® 微波/射频测试电缆组件具有独特设计，满足外场测试和生产测试环境经常发生的频繁扭曲、弯折和震动。该组件具有优异的稳定性能(见图1)。该组件也是现场测试如手持测试仪的互连组件的理想之选。

图1. 弯折和震动时典型幅度稳定性¹

1. 电缆组件长度为0.91m (36 in)的测试数据。将电缆绕半径 57mm 的试棒弯 360˚ 作测试的值。

大批量生产测试典型应用

RF 模块测试
无线通讯器件、模块测试
基站天线测试
RRU/RRH (射频拉远单元) 测试

价值优势

电气性能稳定，确保一致、可重复的测试结果，频率到18GHz
铠装电缆结构，坚固、耐压、耐扭、耐打结，确保更长的使用寿命
增强的弯折、温度变化时相幅稳定性
耐用、性能可靠，减少校准，减少停机时间，提高测试产量

电缆结构

技术参数

	性能	值
电气性能	最高频率 (GHz)	18
	典型 VSWR	1.20:1
	典型插损 (dB)	1.4
	阻抗 (标称) (Ohms)	50
	典型相位稳定性 (度)²	±2.0
	典型幅度稳定性 (dB)²	< ± 0.05
	介电常数 (标称)	1.4
	传播速度 (标称) (%)	85
	屏蔽性能 (dB到18GHz)³	> 100
	时延 (标称) [ns/cm (ns/in)]	0.04 (0.103)
机械/ 环境性能	中心导体	绞合
	电缆外径 [mm (in)]	7.7 (0.305)
	标称重量 [g/m (oz/ft)]	147.6 (1.6)
	最小弯曲半径 [mm (in)]	25.4 (1.0)
	典型弯折寿命⁴	100,000
	温度范围 (˚C)	-55 至 125
	耐压力 [kgf/cm (lbf/in)]	44.6 (250)

1. 表中的电气参数是基于电缆组件长度为 0.91m (36in)，直头的最高频率的性能参数。
2. 将电缆绕半径 57mm 的试棒弯 360˚ 作测试的值。
3. 测试规范参照 MIL-STD-1344，测试方法3008。
4 . 在最小弯曲半径的 2 倍情况下折弯 ±90˚，测试组件在整个定义的弯折寿命内都保持可靠性能。

图3. 测试电缆组件与力矩旋接头

订购信息：大批量生产测试电缆组件

料号	接头A	接头B	长度 in (mm)

HP18-77SMSM-036.0	SMA公头	SMA公头	36.0 (914)
HP18-77SMNM-036.0	SMA公头	精密N型公头	36.0 (914)
HP18-77NMNM-036.0	精密N型公头	精密N型公头	36.0 (914)
HP18-77SMSM-048.0	SMA公头	SMA公头	48.0 (1,219)
HP18-77SMNM-048.0	SMA公头	精密N型公头	48.0 (1,219)
HP18-77NMNM-048.0	精密N型公头	精密N型公头	48.0 (1,219)
HP18-77SMSM-060.0	SMA公头	SMA公头	60.0 (1,524)
HP18-77SMNM-060.0	SMA公头	精密N型公头	60.0 (1,524)
HP18-77NMNM-060.0	精密N型公头	精密N型公头	60.0 (1,524)
HP18-77SMSM-078.7	SMA公头	SMA公头	78.7 (1,999)
HP18-77SMNM-078.7	SMA公头	精密N型公头	78.7 (1,999)
HP18-77NMNM-078.7	精密N型公头	精密N型公头	78.7 (1,999)
HP18-77SMSM-120.0	SMA公头	SMA公头	120.0 (3,048)
HP18-77SMNM-120.0	SMA公头	SMA公头	120.0 (3,048)
HP18-77NMNM-120.0	精密N型公头	精密N型公头	120.0 (3,048)